二维材料生长及表征

2D MATERIALS

应用概述

围绕石墨烯、过渡金属硫化物等二维材料，覆盖生长、转移、层数判定、转角分析与微区缺陷研究。

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层数与厚度

利用表面形貌和高度信息辅助判断单层、多层与薄膜均匀性。

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转角与堆叠

针对人工堆叠与异质结构，提供微区观察和定位分析支持。

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缺陷与边界

观察晶界、褶皱、裂纹和局部污染，为制备工艺优化提供依据。

应用影像

APPLICATION IMAGING

石墨烯薄层褶皱形貌（SEM）
石墨烯薄层褶皱形貌（SEM）
石墨烯 AFM 形貌与高度剖面（层厚约 5.4 nm）
石墨烯 AFM 形貌与高度剖面（层厚约 5.4 nm）
氧化石墨烯（GO）SEM 形貌（×5k–×100k）
氧化石墨烯（GO）SEM 形貌（×5k–×100k）

典型样品

石墨烯、MoS₂、h-BN、二维异质结、纳米片和转移薄膜。

推荐解决方案

原子力显微镜用于厚度与表面结构，扫描电镜用于大面积形貌筛查，扫描隧道显微镜用于原子级表面结构研究。

服务流程

样品与基底确认 → 观察目标拆解 → 设备组合建议 → 样机测试 → 应用培训。